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JASIS2014 | 探針一體型膜厚計“SAMAC系列” – 株式會社SANKO電子研究所


株式會社SANKO電子研究所JASIS 2014中，探頭一體型膜厚計“SAMAC系列”展出。
磁制金屬上的非磁性薄膜和非磁性金屬上的絕緣性皮膜測量的手掌尺寸的膜厚計介紹。


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主頁：http://www.sanko-denshi.co.jp/
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新發售的探針一體型膜厚計介紹。
三種，SAMAC系列說。
膜厚計在金屬上的絕緣性的護膜量。
類型是母材磁性對應和非磁性對應，兩者兼用的三種。
這個類型內置傳感器。
用一只手簡單塗裝、鍍金厚度測量。
實際上，這個膠卷的厚度測量。
簡單貼到而已，膠卷的膜厚被表示。
這是鐵，有色兩用機。
鐵上的薄膜厚度測量。
右上角素材鋼材和被表示。
下面是非磁性體，有色上膠卷照片。
于是右上角，有色金屬和被表示。
一台鐵和非自動判別膜厚測量。
最上位機種的SAMAC - Pro。
數據存儲的電腦傳輸。
上下限值也可以設置。
各種各樣的功能。
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04 9月 2014
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